本次研討會,我們將從測試角度看半導體的整條產(chǎn)業(yè)鏈,從功率半導體器件評估與可靠性測試再到模擬芯片標定的測試誤區(qū),同時,也將和您分享基于第三代功率半導體的電源設計及閣開發(fā)全流程測試方案,并進行演示。

泰克誠邀"芯"朋友親臨現(xiàn)場,現(xiàn)場感受泰克產(chǎn)品帶來的高效測試。

會議日程

時間 主題和內容簡介
13:30-14:00 簽到
14:00-14:15

開場

14:15-15:00

功率半導體器件動態(tài)測試與可靠性測試——測試原理,方法和設備

演講嘉賓:王芳芳——泰克技術專家

15:00-15:20 茶歇
15:20-16:05

模擬芯片標定的測試誤區(qū)

演講嘉賓:葉昊生——泰克技術專家

16:05-16:50

基于第三代功率半導體的電源設計及產(chǎn)品開發(fā)全流程測試方案

演講嘉賓:黃正峰——泰克技術專家

16:50-17:00 抽獎
 
立即報名
立即報名

有問題咨詢小助手